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光譜儀
光纖光譜儀
ATP5330制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀





制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 品牌 | 奧譜天成 | 分辨率 | 0.05 ~ 3nm |
|---|---|---|---|
| 光譜范圍 | 近紅外,200-1100nm | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 光譜范圍 | 近紅外,200-1100nm | 按探測(cè)器 | CCD |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥 |
奧譜天成基于深厚的光譜技術(shù)積淀,正式推出新一代ATP3330及ATP5330系列制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀。該系列產(chǎn)品采用獨(dú)特的M型光路設(shè)計(jì),并融合了TEC熱電制冷技術(shù),將微型光譜儀的性能推向了一個(gè)新的高峰,旨在滿足各類苛刻的高分辨率光譜分析需求。
該系列產(chǎn)品的核心競(jìng)爭(zhēng)力源于其兩項(xiàng)核心技術(shù):M型光路結(jié)構(gòu)與可選探測(cè)器制冷方案。
M型光路與超高分辨率:與傳統(tǒng)光路相比,優(yōu)化后的M型光路結(jié)構(gòu)在同樣緊湊的體積內(nèi),實(shí)現(xiàn)了更高的光通量與色散效率,從而賦予了光譜儀極1致的分辨能力。其分辨率可達(dá)0.05nm,能夠清晰分辨極其接近的 spectral features,為精密分析奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
TEC制冷技術(shù)與優(yōu)異信噪比:該系列提供了制冷與非制冷的靈活配置。其中,ATP5330子系列采用了精密的TEC電制冷技術(shù),可將探測(cè)器核心溫度穩(wěn)定控制在-5℃(ATP5330P更可達(dá)-10℃)。這種主動(dòng)制冷方式能顯著降低探測(cè)器的暗電流和本底噪聲,其直接效益是大幅提升了光譜儀的動(dòng)態(tài)范圍和信噪比。這意味著在測(cè)量微弱信號(hào)時(shí),能夠獲得更清晰、更純凈的光譜數(shù)據(jù),同時(shí)增強(qiáng)了設(shè)備在環(huán)境溫度波動(dòng)下的測(cè)量穩(wěn)定性與可靠性。
為精準(zhǔn)覆蓋不同應(yīng)用場(chǎng)景與預(yù)算,該系列提供了豐富的型號(hào)選擇,核心區(qū)別在于制冷技術(shù)與探測(cè)器像素:
| 型號(hào) | 探測(cè)器制冷 | 探測(cè)器像素 |
|---|---|---|
| ATP3330 | 否 | 2048 |
| ATP3334 | 否 | 4096 |
| ATP5330 | 是,-5℃ | 2048 |
| ATP5334 | 是,-5℃ | 4096 |
| ATP5330P | 是,-10℃,背照式CCD | 2048 |
用戶可根據(jù)對(duì)分辨率(像素?cái)?shù))和信噪比(制冷)的具體要求,選擇最合適的型號(hào)。特別是ATP5330P,采用背照式CCD技術(shù),具有更高的量子效率,使其在極弱光探測(cè)中表現(xiàn)尤為出色。
光學(xué)性能:覆蓋200-1100nm的寬光譜范圍,分辨率在0.05nm至3nm之間可調(diào),采用非交叉C-T光路,結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。
探測(cè)系統(tǒng):配備2048或4096像素的高靈敏度探測(cè)器,配合16位高精度ADC,確保數(shù)據(jù)采集的豐富性與準(zhǔn)確性。
操作與集成:積分時(shí)間范圍寬廣,從0.1毫秒到256秒,既可捕捉高速動(dòng)態(tài)過(guò)程,也能累積極弱光信號(hào)。供電設(shè)計(jì)簡(jiǎn)便,ATP3330僅需5V直流或USB取電;ATP5330系列需額外5V電源。數(shù)據(jù)接口采用現(xiàn)代化的USB Type-C,傳輸穩(wěn)定高效,并預(yù)留了20針擴(kuò)展接口,支持功能定制與二次開(kāi)發(fā)。
輸入輸出:支持SMA905光纖輸入和自由空間光輸入,兼容性強(qiáng),便于集成到各種光學(xué)系統(tǒng)中。
憑借其超高分辨率、低噪聲及高可靠性等特性,ATP3330/ATP5330系列已成為眾多前沿科研與工業(yè)分析領(lǐng)域的理想工具:
高級(jí)科研分析:適用于LIBS(激光誘導(dǎo)擊穿光譜)、等離子體發(fā)光檢測(cè)、拉曼光譜檢測(cè)等,需要高分辨率來(lái)分辨精細(xì)光譜結(jié)構(gòu)的場(chǎng)景。
光源特性監(jiān)測(cè):用于激光器、LED等發(fā)光元件的波長(zhǎng)、光譜形狀及穩(wěn)定性的精確監(jiān)測(cè)與分選。
環(huán)境與品質(zhì)檢測(cè):集成于水質(zhì)分析儀、LED分選機(jī)、顏色檢測(cè)設(shè)備以及反射、透射光譜檢測(cè)系統(tǒng)中,提供精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)支持。
通用光譜分析:廣泛應(yīng)用于光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析等各類光學(xué)實(shí)驗(yàn)與在線過(guò)程控制。
總而言之,奧譜天成ATP3330/ATP5330制冷型超薄超高分辨率M型光路光纖光譜儀以其超高的分辨率、優(yōu)異的信噪比和緊湊的設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了高性能、高可靠性與低成本的良好平衡,為光譜技術(shù)從實(shí)驗(yàn)室走向在線、便攜和嵌入式應(yīng)用提供了強(qiáng)有力的核心組件。